产品分类
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产品型号
SurfaceSeer S TOF-SIMS -
厂商性质
生产厂家 -
更新时间
2026-07-31 -
浏览次数
102
产品描述
SurfaceSeer S 飞行时间二次离子质谱仪 (TOF-SIMS) 面向科研与工业质控，具备 ppm 级表面灵敏度，采用超低损伤脉冲离子束技术，可分析导电 / 绝缘样品，用于薄膜质控、界面分析、表面改性、催化、生物材料表征。支持正负 SIMS 检测，可选标准谱库
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