雪迪龙质谱仪中标高校项目，国产二次离子质谱仪助力降本增效

一、质谱仪国产化进程提速，雪迪龙斩获高校重点采购项目

在2025年秋季启动飞行时间质谱仪（TOF-SIMS）国产产线之后，雪迪龙于科学仪器领域再次交出亮眼成绩单。该公司独立研制的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） 近日成功拿下某高校质谱仪采购标的，将专门用于肽与蛋白质水解产物的表层成分解析。这一中标结果，既体现了业界对雪迪龙科研实力的充分信赖，也意味着我国国产质谱仪在核心技术的自主化、仪器的进口替代方面迈出了具有实质意义的一步，对筑牢关键领域供应链安全根基、助推国产科学仪器创新发展具有深远价值。

二、二次离子质谱仪：战略领域核心装备，长期受制于进口

二次离子质谱仪（SIMS） 作为飞行时间质谱仪的一大关键分支，在半导体、生命科学等战略行业中的表面材料分析角色。此类仪器因技术集成度高、研发投入周期漫长且资金需求巨大，长期以来被少数海外企业把持，成为我国精密科学仪器领域中典型的“卡脖子"环节。雪迪龙瞄准这一技术空白地带，持续加码二次离子质谱仪的自主研发与产业化落地。此番高校项目的中标，正是国产质谱仪打破长期进口依赖、获得科研领域认可的鲜明信号。

三、飞行时间质谱仪技术剖析：高性价比重器，解锁表面分析新维度

飞行时间质谱仪（TOF-MS） 将飞行时间测控理念与质谱分析技术融为一体，而二次离子质谱仪则是该技术在表面分析方向上的典型应用形态。雪迪龙所研制的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS），有机融合了两类技术的优点，具备高分辨率、高检出灵敏度和精确质量测定等能力，同时支持质谱成像、二维组分分析以及纵向深度剖析三大功能模块，已广泛适用于医学、细胞学、地质矿物、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等众多前沿领域的科研探索与检测任务。

其底层运行逻辑清晰：由离子源射出的一次离子束，经一次离子光学系统聚焦并导向后，精准打击样品表面；样品表层受轰击后激发出二次离子，系统对这些二次离子进行提取与再聚焦，随后输送至离子飞行区；在飞行路径中，不同质荷比（m/z）的二次离子因飞行速度差异而依次分离，通过对分离后离子实施检测，便可反推出样品的元素类别、含量以及空间分布特征。

相较于传统的能量色散X射线光谱（EDX）、俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱（XPS）等手段，飞行时间质谱仪在横向与纵向分辨能力、质谱敏感度等方面均展现出显著优势，能够同步解析元素、同位素及分子信息，提供传统技术无法覆盖的专属分析数据，为前沿科学研究与工业检测提供了强有力的技术支撑。

四、深耕自主创新，雪迪龙国产质谱仪技术迭代

作为国产质谱仪领域的中坚力量，雪迪龙始终将核心技术的自主化作为战略目标，在二次离子质谱仪、飞行时间质谱仪等科学仪器方向上保持高强度研发投入。面向未来，企业将继续深化技术创新，拓展产学研协同合作，持续迭代产品性能，全面缩短与国际一线水平的差距，为我国半导体、生命科学、新材料等关键行业提供更优质的国产质谱仪解决方案，助力国产仪器打破技术瓶颈、实现产业化全面替代。